熱釋光劑量計是一種基于熱釋光效應(yīng)記錄累積輻射劑量的精密儀器，廣泛應(yīng)用于核防護、醫(yī)療監(jiān)測、環(huán)境評估及科研領(lǐng)域。其核心原理是：特定晶體材料（如氟化鋰LiF、氧化鈹BeO等）受電離輻射（X、γ、β、中子射線）照射后，晶格中的電子被激發(fā)并陷入缺陷（陷阱）中儲存能量；加熱時，被俘獲的電子逃逸并返回基態(tài)，釋放儲存的能量以可見光形式發(fā)射，光強度與吸收的輻射劑量成正比，通過測量光信號即可換算出累積劑量值。

　　熱釋光劑量計的保養(yǎng)需圍繞其核心部件（探測器、加熱盤、電子元件）及使用環(huán)境展開，具體方法如下：

　　一、探測器保養(yǎng)

　　污染處理

　　避免接觸污染物：探測器芯片若接觸體液、消毒劑、油污等，可能導(dǎo)致讀數(shù)偏差（實驗顯示油污污染可能使讀數(shù)降低15%-20%）。

　　清潔方法：立即用無水乙醇擦拭污染區(qū)域，并標記送檢時說明污染情況。

　　退火處理

　　消除殘留劑量：使用前需在400℃下退火2小時，以清除之前儲存的劑量信息，確保測量準確性。

　　重復(fù)使用限制：芯片使用次數(shù)建議不超過15次，多次退火會降低靈敏度。

　　存儲環(huán)境

　　溫濕度控制：保存環(huán)境應(yīng)與當(dāng)?shù)貞敉鉁貪穸然疽恢拢苊鈽Od條件。例如：

　　室內(nèi)保存：選擇無空調(diào)/暖氣房間，保持門窗常開，防雨防盜。

　　戶外保存：使用倒扣塑料桶，底部固定扎孔塑料袋裝劑量計，桶四周開孔保持內(nèi)外溫濕度一致。

　　穩(wěn)定性驗證：輻照后存放6個月內(nèi)的儲能衰減小于10%，滿足職業(yè)性外照射個人監(jiān)測規(guī)范要求。

　　二、加熱盤維護

　　清潔與平整度

　　定期擦洗：長期使用后，加熱盤因高溫氧化可能變黃變黑，導(dǎo)致反射光性能和熱傳導(dǎo)性下降。需用軟布或?qū)Ｓ们鍧崉┎料矗３纸佑|面平整。

　　接觸完整性：確保探測器與加熱盤完q接觸，避免因接觸不良導(dǎo)致輻射能釋放不完q，影響測量結(jié)果。

　　加熱性能檢查

　　觀察加熱曲線：定期檢查加熱盤升溫速率和溫度均勻性，若出現(xiàn)局部過熱或升溫緩慢，需及時更換或維修。

　　三、電子元件維護

　　定期通電預(yù)熱

　　防老化措施：若使用頻率較低，建議每周開機1-2次，每次約30分鐘，避免電子元件（如電容、線路板）老化。

　　參數(shù)監(jiān)控：預(yù)熱時觀察基本參數(shù)（如高壓值、暗電流）變化，確保儀器狀態(tài)良好。

　　環(huán)境濕度控制

　　防潮處理：部分型號需控制環(huán)境濕度，避免內(nèi)部部件受潮。可在儀器內(nèi)放置防潮硅膠，并定期更換。

　　四、使用規(guī)范與周期管理

　　佩戴與送檢

　　規(guī)范佩戴位置：固定于左胸前第二紐扣水平位置，介入操作時需在防護圍裙內(nèi)側(cè)額外佩戴次級劑量計。

　　送檢制度：每月送檢時間誤差控制在3天以內(nèi)，保證劑量與工作時段準確對應(yīng)。

　　質(zhì)量核查制度

　　臺賬管理：建立劑量儀臺賬，每季度隨機抽取3-5臺設(shè)備，用已知劑量的標準源進行照射比對，驗證測量系統(tǒng)穩(wěn)定性。

　　廢棄處理：廢棄芯片需按豁免級放射性廢物要求規(guī)范處理，不可隨意丟棄。

　　五、環(huán)境與操作禁忌

　　溫度與光照

　　存放溫度限制：環(huán)境溫度不得超過40℃，避免熱釋光提前釋放。

　　避光保存：遠離強光，防止紫外線產(chǎn)生干擾信號。

　　機械防護

　　防擠壓：避免與手機、對講機等設(shè)備近距離接觸，防止機械擠壓損壞芯片。

　　防污染：禁止自行拆卸劑量盒或觸摸芯片表面，手部汗液鹽分可能改變晶體表面狀態(tài)，導(dǎo)致劑量響應(yīng)降低8%-12%。